半導体
半導体製造に応えるクリーンルーム対応の流体ハンドリングシステム
適合規格High-purity
認定規格：
O₂洗浄 ― ASTM G93/G131/G127立会済み洗浄工程NABL認定試験所 | ISO/IEC 17025:2017 | TC-16263試験所・校正機関国家認定委員会ISO 19879 · IACS P2.11 · IEC 60068-2-52型式試験 ― シングルフェルール、10/22/42 mmISO 9001 · 14001 · 45001統合マネジメントシステム、プネ
半導体製造施設には、卓越した清浄度、精度、プロセス制御が求められます。Fluid Controls は、信頼性と汚染管理が不可欠な重要用途に向けて、高純度継手、バルブ、マニホールド、設計対応の流体システムをご提供します。
高度な研究開発、クリーンルーム、3D モデリング、厳格な性能検証に支えられ、当社のソリューションは半導体ファブが一貫して高い製造水準を達成することを支援します。
用途
- 半導体前工程ファブ
- 超高純度ガス供給システム
- プロセス薬液供給システム
- クリーンルーム設備
- 装置スキッドおよびプロセスツール
- ウェーハ製造設備
- 特殊ガス取扱システム
- ウェットプロセス装置
- 冷却水システム
- 真空および計装配管網
規格・認証
- Clean-processed fittings
- Application-specific design
- NABL-validated
認証・承認
Every certificate and report behind what this page says about 半導体, with its number and its issuing body.
酸素洗浄型式試験立会証明書 ― ASTM G93、G131およびG127
TÜV SÜD South Asia、証明書TUVSUD/PWS-002686/PUN/AD/59、2017年9月23日
試験サービス ― 試験所の上限能力、試験項目およびR&D設備
Fluid Controls、製品パンフレット
NABL認定試験所 | ISO/IEC 17025:2017 | TC-16263 ― 認定証および試験範囲
National Accreditation Board for Testing and Calibration Laboratories, certificate TC-16263
その裏付けとなる報告書
この産業向けに保有する証明書および立会試験報告書 4 件。それぞれ対象規格と適用範囲を明記しています。試験所が実施可能な試験の一覧ではありません。
| 試験または認証 | 規格 | 範囲 |
|---|---|---|
| 酸素洗浄型式試験、立会済み | ASTM G93 · ASTM G131 · ASTM G127 | SS 316チューブ継手アセンブリ、1/16"～1"および外径6～15 mm |
| 試験所認定および試験範囲 | ISO/IEC 17025:2017 (TC-16263) | 漏れ、真空、繰返し耐久、振動を伴うインパルス |
| 認定型式試験 | ISO 19879 · IEC 60068-2-52 · IACS P2.11 | シングルフェルールコネクタ、10、22および42 mm |
| 性能型式試験（必須試験および補足試験） | ASTM F1387-99 (2012) | ダブルフェルール継手、外径1/4"～1" |
半導体向けサービス
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